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有载分接开关触头缺陷对切换过程中电磁辐射的影响研究
研究与分析 | 更新时间:2025-09-02
    • 有载分接开关触头缺陷对切换过程中电磁辐射的影响研究

    • Research on Electromagnetic Radiation Characteristics of On-load Tap Changer Switching under Different Contact States

    • 默认刊物名称   2025年

    移动端阅览

  • 刘浩宇, 臧谦, 方天承, 等. 有载分接开关触头缺陷对切换过程中电磁辐射的影响研究[J/OL]. 默认刊物名称, 2025. DOI:

    LIU Haoyu, ZANG Qian, FANG Tiancheng, et al. Research on Electromagnetic Radiation Characteristics of On-load Tap Changer Switching under Different Contact States[J/OL]. Moren journal, 2025. DOI:

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