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紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷
技术讨论 | 更新时间:2025-04-26
    • 紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷

    • Detecting Breakage Defect of Post Insulator with Ultraviolet Imaging Method

    • 高压电器   2009年45卷第5期 页码:87-91+95
    • 中图分类号: TM216
    • 纸质出版日期:2009

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  • [1]雷红才,臧春艳,蒋正龙,何爽,赵新杰,叶会生,尹小根,何俊佳.紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷[J].高压电器,2009,45(05):87-91+95. DOI:

    Detecting Breakage Defect of Post Insulator with Ultraviolet Imaging Method[J]. High voltageapparatus, 2009, 45(5): 87-91+95. DOI:

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