高压断路器断口均压电容器介质损失角增大原因分析及解决措施

孙鹏举; 吕洪明

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

高压断路器断口均压电容器介质损失角增大原因分析及解决措施

技术讨论 | 更新时间：2025-04-26

- 高压断路器断口均压电容器介质损失角增大原因分析及解决措施
- Analysis of Grading Capacitor tanδ Expansion for High Voltage Circuit Breaker
- 高压电器 2009年45卷第2期页码：97-98+105
- 作者机构：
  
  安徽淮北供电公司
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TM561
- 纸质出版日期：2009
- 稿件说明：
移动端阅览
[1]孙鹏举,吕洪明.高压断路器断口均压电容器介质损失角增大原因分析及解决措施[J].高压电器,2009,45(02):97-98+105.

SUN Peng-ju, LU Hong-ming. Analysis of Grading Capacitor tanδ Expansion for High Voltage Circuit Breaker[J]. High voltageapparatus, 2009, 45(2): 97-98+105.
[1]孙鹏举,吕洪明.高压断路器断口均压电容器介质损失角增大原因分析及解决措施[J].高压电器,2009,45(02):97-98+105. DOI：

SUN Peng-ju, LU Hong-ming. Analysis of Grading Capacitor tanδ Expansion for High Voltage Circuit Breaker[J]. High voltageapparatus, 2009, 45(2): 97-98+105. DOI：

摘要

笔者通过对高压断路器均压电容器均压原理论述以及损耗的产生和tanδ值易于偏大的原因分析

着重介绍了电容介质材料在交流电压作用下的极化损耗和电导损耗

解析了均压电容器在各种场强下tanδ的变化情况

并提出了降低离子杂质体积分数以改善tanδ增大的解决措施。

Abstract

This paper analyzes the principle of a grading capacitor in a high voltage circuit breaker

its losses

and the cause of tanδ expansion

giving emphasis on polarization loss and dielectric loss of the dielectric material under alternate voltage.The variation of a grading capacitor tanδ under different field intensities is also analyzed.In addition

a method to suppress tanδ expansion is suggested by reducing ionic contaminations.

关键词

Keywords

references

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

均压环的漆膜对断口均压电容器介损测量的影响

一起500kV断路器均压电容器故障分析

500 kV交流滤波器断路器均压电容器径向击穿仿真分析