一种新的合成试验回路

李刚; 孙梅; 程茵

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一种新的合成试验回路

新产品·新技术 | 更新时间：2025-04-26

- 一种新的合成试验回路
- A New Synthetic Test Circuit
- 高压电器 2009年45卷第6期页码：136-139
- 作者机构：
  
  西安高压电器研究院有限责任公司
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TM561
- 纸质出版日期：2009
- 稿件说明：
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[1]李刚,孙梅,程茵.一种新的合成试验回路[J].高压电器,2009,45(06):136-139.

LI Gang, SUN Mei, CHENG Yin. A New Synthetic Test Circuit[J]. High voltageapparatus, 2009, 45(6): 136-139.
[1]李刚,孙梅,程茵.一种新的合成试验回路[J].高压电器,2009,45(06):136-139. DOI：

LI Gang, SUN Mei, CHENG Yin. A New Synthetic Test Circuit[J]. High voltageapparatus, 2009, 45(6): 136-139. DOI：

摘要

对于超特高压断路器容量试验

传统的电流引入合成试验回路由于自身的局限性已无法满足标准要求。针对这一问题

提出了一种新型合成试验回路。介绍了该试验回路的工作原理

分析了回路的等价性。特高压断路器试验结果表明

该回路具有足够高的试验等价性

可以满足特高压断路器的开断试验要求。

Abstract

For power tests of UHV circuit breaker

due to the limitations of the traditional current injection circuit

it can not meet the requirements of standard.For this case

a new synthetic test circuit was proposed.The principle of this test circuit was introduced

and the equivalence of the circuit was analyzed.The UHV circuit breaker tests results showed that this synthetic test circuit has high enough test equivalence

and can meet the requirements of UHV circuit breaker test.

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