电子设备的雷电浪涌抗扰性试验

方志; 邱毓昌

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电子设备的雷电浪涌抗扰性试验

更新时间：2025-04-26

- 电子设备的雷电浪涌抗扰性试验
- SURGE IMMUNITY TESTS FOR ELECTRONIC DEVICES
- 高压电器 2001年第4期页码：18-19
- 作者机构：
  
  西安交通大学电气工程学院,陕西,西安,710049
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TM866
- 纸质出版日期：2001
- 稿件说明：
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[1]方志,邱毓昌.电子设备的雷电浪涌抗扰性试验[J].高压电器,2001(04):18-19.

FANG Zhi, QIU Yu chang. SURGE IMMUNITY TESTS FOR ELECTRONIC DEVICES[J]. High voltageapparatus, 2001, (4): 18-19.
[1]方志,邱毓昌.电子设备的雷电浪涌抗扰性试验[J].高压电器,2001(04):18-19. DOI：

FANG Zhi, QIU Yu chang. SURGE IMMUNITY TESTS FOR ELECTRONIC DEVICES[J]. High voltageapparatus, 2001, (4): 18-19. DOI：

摘要

本文针对电子设备中普遍存在暂态过电压这一事实

介绍了暂态过电压的发生率和IEC标准中对低压设备做雷电浪涌抗扰性试验的电磁兼容和绝缘配合的要求

并给出了一种用于这种试验的电路原理图及方法

Abstract

Transient overvoltages are a common phenomenon in electronic devices. The occurrence rate of transient overvoltages

the test requirements of electromagnetic compatibility and insulation coordination specified in IEC standards are presented in this paper. A schematic circuit for this kind of test are also presented.

关键词

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