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影响CuCr触头真空断路器开合并联电容器性能的主要因素
更新时间：2025-04-26

    • 影响CuCr触头真空断路器开合并联电容器性能的主要因素

    • 影响CuCr触头真空断路器开合并联电容器性能的主要因素

    • 高压电器   1998年第4期 页码：62-64
    • 中图分类号： TM561

    • 纸质出版日期：1998

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  • [1]陈寿平.影响CuCr触头真空断路器开合并联电容器性能的主要因素[J].高压电器,1998(04):62-64. DOI：

    影响CuCr触头真空断路器开合并联电容器性能的主要因素[J]. High voltageapparatus, 1998, (4): 62-64. DOI：

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