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西安高压开关厂,710077
纸质出版日期:1996
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[1]郭广仁.500kV的GIS可靠性试验[J].高压电器,1996(05):58-62.
500kV的GIS可靠性试验[J]. High voltageapparatus, 1996, (5): 58-62.
[1]郭广仁.500kV的GIS可靠性试验[J].高压电器,1996(05):58-62. DOI:
500kV的GIS可靠性试验[J]. High voltageapparatus, 1996, (5): 58-62. DOI:
对日本东芝公司生产的500kV、12000A的GIS的安全可靠性试验做一介绍。包括对GIS低电压控制回路的感应电压测量试验;GIS长期带电试验;GIS接地系统感应电流的测试等试验
和提出的抑制感应电压及电流的方法。
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