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华中理工大学,武汉,430074
纸质出版日期:1996
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[1]程礼椿.利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能[J].高压电器,1996(05):28-32.
利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能[J]. High voltageapparatus, 1996, (5): 28-32.
[1]程礼椿.利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能[J].高压电器,1996(05):28-32. DOI:
利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能[J]. High voltageapparatus, 1996, (5): 28-32. DOI:
介绍利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能的技术。在阐明真空间隙击穿和微放电机理的基础上
引用国外最近的研究结果对预测的可能性给于证明
最后对它的应用问题作了讨论。
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