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西安高压电器研究所,710077
纸质出版日期:1996
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[1]金立湘.真空断路器断流容量试验中的一些问题[J].高压电器,1996(01):29-32.
真空断路器断流容量试验中的一些问题[J]. High voltageapparatus, 1996, (1): 29-32.
[1]金立湘.真空断路器断流容量试验中的一些问题[J].高压电器,1996(01):29-32. DOI:
真空断路器断流容量试验中的一些问题[J]. High voltageapparatus, 1996, (1): 29-32. DOI:
真空断路器开断短路电流后在工频恢复电压下易击穿
由此引起三相、单相直接试验和单相合成试验之间的差异。因而对现有的非三相直接试验法应作更详细的规定
或改进试验方法;已经通过电寿命试验的真空断路器
不论装在哪一厂家生产的柜体中
只要装在柜中的断路器的空载机械特性处在技术条件规定的范围内
可以只作短路方式4的试验而不需再作电寿命试验。
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CSCD
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