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真空灭弧室开断大电流后的绝缘劣化
更新时间:2025-04-26
    • 真空灭弧室开断大电流后的绝缘劣化

    • Degradation in Insulation Strength after High-Current Interruption in Vacuum Interrupters

    • 高压电器   1994年第5期 页码:8-11
    • 中图分类号: TM561.5
    • 纸质出版日期:1994

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  • [1]何俊佳,邹积岩,张汉明,李正新.真空灭弧室开断大电流后的绝缘劣化[J].高压电器,1994(05):8-11. DOI:

    Degradation in Insulation Strength after High-Current Interruption in Vacuum Interrupters[J]. High voltageapparatus, 1994, (5): 8-11. DOI:

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