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1. 西安交通大学
2. 秦川机械厂
纸质出版日期:1990
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[1]丁秉钧,李宏群,王笑天,王季梅,吴学栋,冯巧贤.温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响[J].高压电器,1990(06):40-44.
温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响[J]. High voltageapparatus, 1990, (6): 40-44.
[1]丁秉钧,李宏群,王笑天,王季梅,吴学栋,冯巧贤.温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响[J].高压电器,1990(06):40-44. DOI:
温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响[J]. High voltageapparatus, 1990, (6): 40-44. DOI:
本文测定了Cu、Cu-Te、Ca-Se、Cu-Te-Se-Fe、Cu-Cr等触头材料在300~1600K温度范围内的耐电压强度。测定结果表明
对于不同的触头材料
存在不同的临界温度。并用扫描电镜观察了在高温下被击穿触头材料的表面形貌
根据观察到的形貌特点和Langmuir空间电荷方程讨论了温度对耐电压强度的影响。
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CSCD
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