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纸质出版日期:1972
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[1]王勇武,,,,,,,,,,,张俊锋.串联补偿法——降低污闪试验回路阻抗的措施[J].高压电器,1972(02):21-26.
串联补偿法——降低污闪试验回路阻抗的措施[J]. High voltageapparatus, 1972, (2): 21-26.
[1]王勇武,,,,,,,,,,,张俊锋.串联补偿法——降低污闪试验回路阻抗的措施[J].高压电器,1972(02):21-26. DOI:
串联补偿法——降低污闪试验回路阻抗的措施[J]. High voltageapparatus, 1972, (2): 21-26. DOI:
<正> 在绝缘子人工污闪试验中
由于表面污秽层电导率高
泄漏电流不但数值大
且幅值波动也大。如果电源内阻大
就会导致试品端电压随之波动
影响试验结果的可靠性
使试验得到的污闪电压值偏高。因此
在作污闪试验时
要求电源设备的容量要大
试验迥路的阻抗应尽量减少。这就是污闪试验对设备的特殊要求。
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