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空间干扰对电容式套管介质损耗因数(tanδ)测量结果影响的分析
经验点滴 | 更新时间:2025-04-26
    • 空间干扰对电容式套管介质损耗因数(tanδ)测量结果影响的分析

    • Analysis on the Effect of Space Disturbance upon Capacitive Bushing Dielectric Loss Factor(tanδ) Measurement

    • 高压电器   2008年第1期
    • 中图分类号: TM216.5
    • 纸质出版日期:2008

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  • [1]苏煜,张燕涛,王薇.空间干扰对电容式套管介质损耗因数(tanδ)测量结果影响的分析[J].高压电器,2008(01):87+90. DOI:

    SU Yu, ZHANG Yan-tao, WANG Wei. Analysis on the Effect of Space Disturbance upon Capacitive Bushing Dielectric Loss Factor(tanδ) Measurement[J]. High voltageapparatus, 2008, (1). DOI:

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相关作者

潘立新
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相关机构

  北京工业大学  
  西安高压电器研究所  
  西安高压电器研究所 710077  
清华大学
  清华大学  
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