SF<sub>6</sub>中导电粒子的影响及试验方法的研究

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SF₆中导电粒子的影响及试验方法的研究

更新时间：2025-05-17

- SF₆中导电粒子的影响及试验方法的研究
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- 高压电器 1988年第6期页码：55-61
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  中图分类号：
- 纸质出版日期：1988
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SF₆中导电粒子的影响及试验方法的研究[J]. 高压电器, 1988,(6):55-61.
SF₆中导电粒子的影响及试验方法的研究[J]. 高压电器, 1988,(6):55-61. DOI：

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摘要

本文介绍有关GIS中导电粒子对绝缘性能影响方面的研究

目的在于弄清导电粒子长度与交流、冲击闪络电压之间的关系

在所得数据的基础上

为了防止运行时的绝缘故障

这个研究继估量运行的GIS中有害导电粒子的最小长度之后

对工厂和现场中一些检测有害导电粒子的试验方法也进行了探讨。

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