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1. 中国工程物理研究院电子工程研究所
2. 2. 中国工程物理研究院朝晖学校
纸质出版日期:2005
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[1]刘华昌,吴春艳.电容器直流局部放电的统计指纹分析[J].高压电器,2005(06):405-407.
LIU Hua-chang, WU Chun-yan. Statistical Fingerprint Analysis for Capacitor PD under DC[J]. High voltageapparatus, 2005, (6): 405-407.
[1]刘华昌,吴春艳.电容器直流局部放电的统计指纹分析[J].高压电器,2005(06):405-407. DOI:
LIU Hua-chang, WU Chun-yan. Statistical Fingerprint Analysis for Capacitor PD under DC[J]. High voltageapparatus, 2005, (6): 405-407. DOI:
针对电容器直流局部放电测试中的离散数据
借助统计理论
合理地对局部放电数据进行峰度、偏度、相关度、变异度等参量提取
然后利用BP网络对提取的参量进行识别
获得了较高的识别率
并发现选择不同的识别输入量
识别的结果有一定的不同
这对以后的深入研究有很大的参考价值。
According to statistical theory
this paper aims at discrete datum of PD measurement for capacitor under DC. Parameters of
kurtosis
skewness
correlation coefficient
variance coefficient etc
are extracted from the PD datum reasonably. Then the extracted parameters are recognized by using BP network
and it has a remarkable discrimination. It is found different recognition results with different inputs
which has tremendous values for future study.
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