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浅析现场tgδ测试中电桥接地不良引发的负损耗
更新时间:2025-04-26
    • 浅析现场tgδ测试中电桥接地不良引发的负损耗

    • 浅析现场tgδ测试中电桥接地不良引发的负损耗

    • 高压电器   1995年第6期 页码:55-56
    • 中图分类号: TM938
    • 纸质出版日期:1995

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  • [1]罗军川.浅析现场tgδ测试中电桥接地不良引发的负损耗[J].高压电器,1995(06):55-56. DOI:

    浅析现场tgδ测试中电桥接地不良引发的负损耗[J]. High voltageapparatus, 1995, (6): 55-56. DOI:

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