孔径时间不确定性与锁定直方图试验

管喜康

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孔径时间不确定性与锁定直方图试验

更新时间：2025-04-26

- 孔径时间不确定性与锁定直方图试验
- Aperture Uncertainty and Locked Histogram Test
- 高压电器 1992年第4期页码：36-41
- 作者机构：
  
  上海交通大学,200030
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版日期：1992
- 稿件说明：
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[1]管喜康.孔径时间不确定性与锁定直方图试验[J].高压电器,1992(04):36-41.

Guan Xikang. Aperture Uncertainty and Locked Histogram Test[J]. High voltageapparatus, 1992, (4): 36-41.
[1]管喜康.孔径时间不确定性与锁定直方图试验[J].高压电器,1992(04):36-41. DOI：

Guan Xikang. Aperture Uncertainty and Locked Histogram Test[J]. High voltageapparatus, 1992, (4): 36-41. DOI：

摘要

孔径时间不确定性是影响快速波形记录仪动态性能的重要参数

叙述了快速信号在采样/保持器中的电气过程

介绍了如何用锁定直方图的方法测定孔径时间不确定性

讨论了采样时间间隔不确定性和孔径时间不确定性的异同。

Abstract

The dynamic performance of fast digital waveform recorders is influenced by an important parameter-aperture uncertainty. The electrical Process in sample/hold circuit and the locked histogram test used to estimate aperture uncertainty are included. The difference between sampling interva uncertainty and aperture uncertainty in digital recorders is discussed.

关键词

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