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西安理工大学,西安,710048
纸质出版日期:2000
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[1]梁淑华,范志康.铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J].高压电器,2000(03):20-21+47.
铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J]. High voltageapparatus, 2000, (3): 20-21+47.
[1]梁淑华,范志康.铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J].高压电器,2000(03):20-21+47. DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2000.03.007.
铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J]. High voltageapparatus, 2000, (3): 20-21+47. DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2000.03.007.
阐述了CuW系触头材料制备过程中容易产生的缺陷,对每一种缺陷产生的原因进行了详细的分析,并提出了相应的控制方法。实践表明,只要严格控制工艺参数,按照工艺流程操作,完全可以避免缺陷的产生,生产出性能优良的触头材料。
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