不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议

张欣; 李高扬; 黄荣辉; 向真; 赵宇明; 姚森敬; 王小华

doi:10.13296/j.1001-1609.hva.2016.03.030

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不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议

技术讨论 | 更新时间：2025-04-26

- 不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议
- Statistical Analysis of Defects and Maintenance Advice for GIS in Different Operating Years Above 110 kV
- 高压电器 2016年52卷第3期页码：184-188+194
- 作者机构：
  
  1. 深圳供电局有限公司
  2. 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13296/j.1001-1609.hva.2016.03.030
  中图分类号： TM595
- 纸质出版日期：2016
- 稿件说明：
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[1]张欣,李高扬,黄荣辉,向真,赵宇明,姚森敬,王小华.不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议[J].高压电器,2016,52(03):184-188+194.

ZHANG Xin, LI Gaoyang, HUANG Ronghui, et al. Statistical Analysis of Defects and Maintenance Advice for GIS in Different Operating Years Above 110 kV[J]. High voltageapparatus, 2016, 52(3): 184-188+194.
[1]张欣,李高扬,黄荣辉,向真,赵宇明,姚森敬,王小华.不同运行年限的GIS缺陷率统计分析与运维建议[J].高压电器,2016,52(03):184-188+194. DOI： 10.13296/j.1001-1609.hva.2016.03.030.

ZHANG Xin, LI Gaoyang, HUANG Ronghui, et al. Statistical Analysis of Defects and Maintenance Advice for GIS in Different Operating Years Above 110 kV[J]. High voltageapparatus, 2016, 52(3): 184-188+194. DOI： 10.13296/j.1001-1609.hva.2016.03.030.

摘要

随着组合电器运行年限的增高

其缺陷率往往呈现增高的趋势。通过统计近年来南方电网部分地区在不同运行年限组合电器的缺陷率情况

并对组合电器的控制系统、密封、机构等组成部分的缺陷单独进行详细的分析

揭示了不同类别缺陷的增长变化规律

并对运行在不同阶段组合电器的运维重点提出了建议。

Abstract

The defect rate of gas insulted switchgear（GIS） usually increases along with its operating years.According to statistical analysis of defect rate of GIS in different life period

and the similar analysis for its components respectively

including the control system

seal ring and mechanism

the growth rule of different kind of defects is revealed. Moreover

some maintenance advice for GIS of different lifetime is also proposed.

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