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基于PSO-SVM的多场景绝缘子劣化判定研究
研究与分析 | 更新时间:2026-04-08
    • 基于PSO-SVM的多场景绝缘子劣化判定研究

    • Research on Multi-scenario Insulator Degradation Determination Based on PSO-SVM

    • 高压电器   2026年62卷第4期 页码:113-121
    • DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2026.04.013    

      中图分类号:
    • 收稿:2025-09-25

      修回:2025-12-20

      纸质出版:2026-04-16

    移动端阅览

  • 王思华, 徐贺节, 刘爽, 等. 基于PSO-SVM的多场景绝缘子劣化判定研究[J]. 高压电器, 2026,62(4):113-121. DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2026.04.013.

    WANG Sihua, XU Hejie, LIU Shuang, et al. Research on Multi-scenario Insulator Degradation Determination Based on PSO-SVM[J]. High Voltage Apparatus, 2026, 62(4): 113-121. DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2026.04.013.

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