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Published:1988
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[J]. High voltageapparatus, 1988, (6): 55-61.
DOI:
[J]. High voltageapparatus, 1988, (6): 55-61. DOI:
本文介绍有关GIS中导电粒子对绝缘性能影响方面的研究
目的在于弄清导电粒子长度与交流、冲击闪络电压之间的关系
在所得数据的基础上
为了防止运行时的绝缘故障
这个研究继估量运行的GIS中有害导电粒子的最小长度之后
对工厂和现场中一些检测有害导电粒子的试验方法也进行了探讨。
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