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西安高压电器研究所
Published:1985
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[J]. High voltageapparatus, 1985, (5): 51-53+37.
DOI:
[J]. High voltageapparatus, 1985, (5): 51-53+37. DOI:
国际电介质性能及应用学术会议是由西安交通大学主办
中国西安交通大学、美国电气及电子工程师协会及中国电工技术学会联合发起并于1985年6月24日至29日在我国西安召开的。
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