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Published:1982
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[J]. High voltageapparatus, 1982, (1): 14-23.
DOI:
[J]. High voltageapparatus, 1982, (1): 14-23. DOI:
采用概率统计法进行绝缘配合、安全裕度和放电特性的选择;给出500千伏隔离开关模型和样品试验数据;总结出对地和断口绝缘结构设计和计算方法。
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