从试验示波图和外部效应对SF<sub>6</sub>断路器开断状况的分析

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从试验示波图和外部效应对SF₆断路器开断状况的分析

更新时间：2025-04-26

- 从试验示波图和外部效应对SF₆断路器开断状况的分析
- High VoltageApparatus Issue 1, Pages: 43-49(1997)
- 作者机构：
  
  上海华通开关厂,200072
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TM561
- Published：1997
- 稿件说明：
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[1]施文耀.从试验示波图和外部效应对SF_6断路器开断状况的分析[J].高压电器,1997(01):43-49.

从试验示波图和外部效应对SF₆断路器开断状况的分析[J]. High voltageapparatus, 1997, (1): 43-49.
[1]施文耀.从试验示波图和外部效应对SF_6断路器开断状况的分析[J].高压电器,1997(01):43-49. DOI：

从试验示波图和外部效应对SF₆断路器开断状况的分析[J]. High voltageapparatus, 1997, (1): 43-49. DOI：

摘要

在简述了试验回路概况后

针对几种典型的不正常的示波图进行了详细分析

以有助于参试人员正确地判断试品的开断状况

也能给出试品开断失败的原因和改进方向

从而提高试验效率和减少试验费用。

Abstract

在简述了试验回路概况后

针对几种典型的不正常的示波图进行了详细分析

以有助于参试人员正确地判断试品的开断状况

也能给出试品开断失败的原因和改进方向

从而提高试验效率和减少试验费用。

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