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Published:1994
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[1]马铜德.GIS内电弧闪络及其对盘式绝缘子表面的影响[J].高压电器,1994(02):61.
GIS内电弧闪络及其对盘式绝缘子表面的影响[J]. High voltageapparatus, 1994, (2): 61.
[1]马铜德.GIS内电弧闪络及其对盘式绝缘子表面的影响[J].高压电器,1994(02):61. DOI:
GIS内电弧闪络及其对盘式绝缘子表面的影响[J]. High voltageapparatus, 1994, (2): 61. DOI:
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正> GIS内击穿或闪络产生的电弧移动路径和能量
决定了它们对导体、外壳和邻近的盘式绝缘子表面的破坏程度.燃弧期间的电流幅值决定着电弧的速度和热量
它们能够导致GIS内外壳的烧穿
触头表面烧蚀和汽化
SF
6
气体压力的上升以及对盘式绝缘子表面的破坏.电弧的移动主要取决于电弧的电流幅值、压力和绝缘气体的类型、绝缘介质的均匀性、电场以及外部电磁场的综合作用结果.这些影响电弧移动的因素同时也决定着电弧的路径.电弧移动还可能在不同程度下受到某些因素的影响转化成纵向或横向移动.
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