GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验

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GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验

更新时间：2025-04-26

- GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验
- High VoltageApparatus Issue 6, Pages: 56-59(1991)
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- Published：1991
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[1]卫万采.GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验[J].高压电器,1991(06):56-59.

GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验[J]. High voltageapparatus, 1991, (6): 56-59.
[1]卫万采.GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验[J].高压电器,1991(06):56-59. DOI：

GIS中接触不良起弧造成绝缘下降的模拟试验[J]. High voltageapparatus, 1991, (6): 56-59. DOI：

摘要

<正> 这里介绍的是日本大同工大、名古屋工大、富士电机公司、中部电力公司等共同就GIS接点接触不良引起放电造成绝缘下降的实验、分析结果。实验方式在接点部位设置微间隙

作为GIS接点接触不良的模拟

用以研究微间隙产生的电弧放电、即微放电对接点部位与箱壁之间的绝缘击穿特性的影响。

Abstract

<正> 这里介绍的是日本大同工大、名古屋工大、富士电机公司、中部电力公司等共同就GIS接点接触不良引起放电造成绝缘下降的实验、分析结果。实验方式在接点部位设置微间隙

作为GIS接点接触不良的模拟

用以研究微间隙产生的电弧放电、即微放电对接点部位与箱壁之间的绝缘击穿特性的影响。

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