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华中理工大学
Published:1988
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[J]. High voltageapparatus, 1988, (5): 34-43.
DOI:
[J]. High voltageapparatus, 1988, (5): 34-43. DOI:
介绍多年来国外对金属微屑在SF
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气体中使绝缘性能下降的物理现象的研究结果
主要内容为:微屑在电压作用下的启举场强;微屑启动后在气隙中的运动情况与引起击穿的机理;微屑在绝缘子表面的粘附情况:微屑对间隙击穿电压与绝缘子沿面放电电压的影响。
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