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哈尔滨工业大学
Published:1983
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[J]. High voltageapparatus, 1983, (2): 49-55.
DOI:
[J]. High voltageapparatus, 1983, (2): 49-55. DOI:
本文在热网络分析的基础上
建议以出线端温升为端部允许温升时不输出热流
作为单个电器长期发热设计的边界条件;以各电器出线端温升低于端部允许温升作为组合电器长期发热设计的边界条件;并提出以联接导体作为缓冲网络
以实现电器间的热匹配。 文中分析了现行电器长期发热试验的边界条件及测试量的缺点
建议以电器两端温升为端部允许温升作为热试验的边界条件
在额定电流下除测量电器内部温升外
尚应测量接触位降和端部热流
并以额定电流、接触位降和端部热流
作为标志电器长期发热性能的参数。文中还提出了可实现上述测试的试验装置和方法。
Based on the theoretical model described in reference [1]
heat design method
heat-run test method of electrical apparatus are disccused and some suggestions are presented in this paper.
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