铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法

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铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法

更新时间：2025-04-26

- 铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法
- High VoltageApparatus Issue 3, Pages: 20-21+47(2000)
- 作者机构：
  
  西安理工大学,西安,710048
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13296/j.1001-1609.hva.2000.03.007
  CLC： TM503.5
- Published：2000
- 稿件说明：
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[1]梁淑华,范志康.铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J].高压电器,2000(03):20-21+47.

铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J]. High voltageapparatus, 2000, (3): 20-21+47.
[1]梁淑华,范志康.铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J].高压电器,2000(03):20-21+47. DOI： 10.13296/j.1001-1609.hva.2000.03.007.

铜钨系触头材料生产中常见缺陷及其消除办法[J]. High voltageapparatus, 2000, (3): 20-21+47. DOI： 10.13296/j.1001-1609.hva.2000.03.007.

摘要

阐述了ＣｕＷ系触头材料制备过程中容易产生的缺陷，对每一种缺陷产生的原因进行了详细的分析，并提出了相应的控制方法。实践表明，只要严格控制工艺参数，按照工艺流程操作，完全可以避免缺陷的产生，生产出性能优良的触头材料。

Abstract

阐述了ＣｕＷ系触头材料制备过程中容易产生的缺陷，对每一种缺陷产生的原因进行了详细的分析，并提出了相应的控制方法。实践表明，只要严格控制工艺参数，按照工艺流程操作，完全可以避免缺陷的产生，生产出性能优良的触头材料。

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