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基于局放与X射线成像检测的GIS缺陷联合诊断及应用
更新时间：2025-04-26

    • 基于局放与X射线成像检测的GIS缺陷联合诊断及应用

    • High VoltageApparatus   Vol. 58, Issue 9, Pages: 197-202+220(2022)

    • DOI：10.13296/j.1001-1609.hva.2022.09.025    

      CLC： TM855;O434.19

    • Published：2022

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  • [J]. High voltageapparatus, 2022, 58(9): 197-202+220. DOI： 10.13296/j.1001-1609.hva.2022.09.025.

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