您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于思维进化和L-M法优化BP神经网络的SF6断路器触头电寿命评估
更新时间:2025-04-26
    • 基于思维进化和L-M法优化BP神经网络的SF6断路器触头电寿命评估

    • High VoltageApparatus   Vol. 59, Issue 3, Pages: 44-52+60(2023)
    • DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2023.03.007    

      CLC: TP18;TM561.3
    • Published:2023

    移动端阅览

  • [J]. High voltageapparatus, 2023, 59(3): 44-52+60. DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2023.03.007.

  •  
  •  

0

Views

302

下载量

2

CSCD

Alert me when the article has been cited
提交
Tools
Download
Export Citation
Share
Add to favorites
Add to my album

Related Articles

SF6断路器开断过程中固体分解产物研究
The Prediction of the Dielectric Strength of Gas Insulated Apparatus with Figure-of-Merit
Dielectric Strength Recovery Characteristics Post-zero of High Current in SF6
考虑过渡函数的电气化铁路弓网离线电弧建模与验证分析

Related Author

杨韧
张晓
彭雅楠
林德智
吕厚华
张伟强
刘亚芳
邱毓昌

Related Institution

国网陕西省电力有限公司电力科学研究院
陕西师范大学化学化工学院西安市金属有机材料化学重点实验室
西安交通大学电气工程学院
西安交通大学
重庆大学
0